막의 오염지수(SDI)

[비상하는 용]

역삼투 여과막이나 나노 여과막의 막 오염 현상을 미리 예측하기 위한 방법으로는 SDI(Silt Density Index) 측정 방법이 사용되고 있다. SDI 측정 방법은 분리막에 오염(fouling)이 일어날 수 있는 가능성을 나타내는 척도로 이용되는데, 직경이 47 mm, 공극이 0.45 ㎛의 필터에 30 psi의 압력으로 유입수를 통과시켜 부유물(SS; Suspended Solid) 성분에 의해 일어나는 오염의 정도를 측정하는 방법

이 때, 처음 500 ml의 물이 흐르는데 걸리는 시간(T0)을 측정하고, 최초 측정 시간으로부터 15분(T)이 지난 후 다시 500 ml의 물이 흐르는데 걸리는 시간(T1)을 측정하여, 측정된 두 시간의 비율을 막오염의 척도로 사용하고 있다.

SDI 측정방법은 현재 역삼투 방식 또는 나노 여과공정에서 유입수의 막 오염 경향을 예측하기 위해 가장 널리 사용되는 방법이다. 일반적으로 SDI 측정방법에 따라 측정된 값, 즉 측정된 SID 값이 3 미만이면 오염은 심하지 않은 것으로 판단하고, 5 이상이 될 경우 심한 오염이 발생될 것으로 판단하게 된다.

역삼투 여과막 또는 나노 여과막의 막 오염을 측정하는 다른 방법으로는 MFI(Modified Fouling Index) 측정 방법이 있다. MFI(Modified Fouling Index)는 직경 47mm, 공극 0.45㎛의 여과막에 30psi의 압력으로 유입수를 통과시켜 오염원에 의해 발생하는 막의 오염 정도를 측정하는 오염지수이다.