엠티에스코리아
james9790@daum.net
031 499 9790
개요
본 사양서는 반도체 Roll-to-Roll (R2R) 공정에서 사용되는 검사 장비 중 비전 검사기(2D Line Scan)와 AOI 검사기(Automated Optical Inspection)에 대한 기술 사양입니다. 대상은 필름, PI, Tape 등 웹(Web) 기판 기반 공정입니다.
요약
1.대상장비
1-1.비전 검사기 (2D Line Scan)
1-2.AOI 검사기 (Automated Optical Inspection)
2.용도
R2R 웹(Web, 필름) 위의 표면 결함, 회로 패턴, 마이크로 크랙, 얼라인 오류 검출
3.공정
FOPLP, OLED, 이미지센서, PI/PE 필름 공정 등
비전 검사기 구성 요소
| 구성 요소 | 사양 예시 |
| 카메라 | Line Scan (4K~16K), CMOS 센서, 최대 200kHz 라인 속도 |
| 조명 | Line Light, Coaxial, Backlight 조합 (도미넌트 조명) |
| 렌즈 | Telecentric or Entocentric Lens |
| 검사 해상도 | 10~25㎛/pixel |
| 결함 검출 | Particle, Scratch, 오염, 얼룩, 코팅 이상 등 |
| 속도 | 최대 30m/min 이상 |
| 동기화 | Encoder + Trigger 방식, 실시간 동기화 |
| 소프트웨어 | OpenCV / Halcon / Cognex 기반 Defect Detection 알고리즘 |
AOI 검사기 구성 요소
| 구성 요소 | 사양 예시 |
| 카메라 | Area Scan or 고해상도 Line Scan (12MP~25MP 이상) |
| 조명 | Dome, Darkfield, RGB, Coaxial 등 다중 조명 |
| 렌즈 | 고배율 Telecentric Lens |
| 검사 해상도 | 2~5㎛/pixel |
| 검출 항목 | RDL 패턴, 미세 크랙, Bump, Misalignment 등 |
| 속도 | 0.3~0.5초/frame (영역 기반 스캔) |
| 정렬 정확도 | ±2㎛ 이하 (Fiducial Alignment 기반) |
| AI 도입 가능 | 결함 분류 및 False Alarm 감소 목적 |
기타옵션
검사 후 Marking 또는 Reject 시스템 연동