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국내 적합한 석면의 판별기법

  우리나라에서는 일반적으로 정성/정성 분석에는 편광현미경(PLM: Polarized Light Microscopy), 대기중 석면농도는 위상차현미경(PCM: Phase Contrast Microscopy)를 사용하고 있으며, EDX(Energy Dispersive X-ray Analyzer) 장비를 장착한 투과전자현미경(TEM: Transmission Electron Microscopy) TEM-EDX를 이용한 석면분석방법도 알려져 있다.  EDX가 장착된 TEM을 사용하여 극미량의 원소도 정확하게 분석할 수 있으며 전자회절상(electron diffraction)을 이용하여 결정체의 독특한 구조를 알 수 있다.

  현재 우리나라에는 석면을 위와 같은 방법으로 분석을 할 수 있지만 그 분석을 수행할 수 있는 실험실이 그리 많지가 않은 실정이다. 또한 그 분석 장비를 갖추고 있는 실험실일지라도 석면의 갖가지 종류와 특성을 능숙하게 분석할 수 있는 분석자 또한 많지 않다.

  분석 방법에 있어서는 전자현미경(TEM; Transmission Electron Microscope), SEM(Scanning Electron Microscopy), 또는 XRD(X-Ray Powder Diffraction)등등의 분석방법은 그 분석 절차가 복잡하고 까다롭기 때문인 것이 그 이유 중 하나이다. 또한 이들 분석 방법은 분석 기기가 고가이고, 석면에 대한 정성 정량 분석을 하는데 있어서 장기간의 시간이 소요되기 때문에 그 분석비용에 대한 의뢰자의 부담이 크다. 반면에 입체 현미경(SM; Stereo Microscope) 을 겸비한 편광현미경(PLM; Polarized Light Microscopy)을 통한 분석 방법은 타 분석 장비에 비해 그 가격이 저렴하고, 석면 분석 절차 또한 간단하여, 교육과 연습을 통한 분석자의 배출이 수월하다. 편광현미경을 통한 분석은 타 분석법에 비해 분석 기간이 짧고, 한 시료 당 30분 이내에 정성, 정량 분석이 가능하다. (경험 3년 이상 석면 분석에 능숙한 분석자의 기준임.)

  선진국의 사례를 본다면 석면 분석을 위하여 대부분이 편광현미경을통한 분석을 선호하고 있다. 선진국에서는 편광 현미경을 통한 분석법을 채택하여 관할 당국의 정기적인 정도관리 (Proficiency Test)를 통한 실험실의 의 분석 능력(정성&정량)을 주기적으로 파악하여, 모든 실험실에 대한 자격을 관리 하고 있다. 때문에 당국으로부터 자격을 얻은 실험실은 그 능력에 대한 신뢰를 대 내외적으로 인정 받고 있다.

  우리나라에서는 석면 분야에서 이제 그 첫 걸음을 디딛고 있다. 해당 당국은 석면의 위해성에 대한 인지를 빠른 시일 내에 파악하고, 국내 곳곳에서 사용되고 있는 석면에 대한 실태를 파악하는 것이 급선무일 것이다. 이를 위해서는 어느 물질에 석면이 포함되어 있는지에 대한 조사 및 파악이 우선일 것이며 그에 맞는 조사 수행자의 교육 및 선정과 이를 연계하여 우리나라 실정에 맞는 분석 방법의 권고가 필요하다.