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공정 |
가스 명 |
분자식 |
허용농도(TLV치)a) |
노출기준 (TWA)b),C) |
ETCH |
염소 |
Cl2 |
1 |
1 (노동부고시) |
염화수소 |
HCl |
5 |
C5 (노동부고시) |
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3염화붕소 |
BCl3 |
5 |
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불소 |
F2 |
0.1 |
0.1 (노동부고시) |
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4염화규소 |
SiCl4 |
5 |
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브롬수소 |
HBr |
3 |
C3 (노동부고시) |
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6불화유황 |
SF6 |
1000 |
1000 (노동부고시) |
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불화메탄 |
CHF3 |
3 |
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4염화탄소 |
CCl4 |
10 |
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3불화염소 |
ClF3 |
3 |
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3불화질소 |
NF3 |
10 |
|
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불화수소 |
HF |
3 |
C3 (노동부고시) |
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4불화규소 |
SiF4 |
3 |
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프레온12 |
CCL2F2 |
3 |
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4브롬규소 |
SiBr4 |
3 |
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브롬불화탄소 |
CF3Br |
3 |
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8불화프로판 |
C3F8 |
3 |
|
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PECVD LPCVD |
시란 |
SiH4 |
0.5 |
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지시란 |
Si2H6 |
0.5 |
|
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S2H6 |
0.1 |
|
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포스핀 |
PH3 |
0.3 |
0.3 (노동부고시) |
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- |
TEOS |
10 |
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지크로로시란 |
SiH2Cl2 |
5 |
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4불화탄소/산소 |
CF4/O2 |
3 |
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6불화에탄/산소 |
C2F6/O2 |
3 |
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불화텅스텐 |
WF6 |
0.75 |
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IMPLANTER |
아르신 |
AsH3 |
0.05 |
0.05 (노동부고시) |
포스핀 |
PH3 |
0.3 |
0.3 (노동부고시) |
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3불화붕소 |
BF3 |
1 |
C1 (노동부고시) |
a),TLV(Tolerance Limit Value는 ACGIH-1978(American Conference of
Governmental Industrial Hygienists 1978)에서 제정된 시간가중평균농도 이며
하루 8시간의 평균허용농도이다. 가스의 경우 ppm, 먼지형인 때 공기1m3 중
의 수치로 표현 한다.
b) TWA( Time Weighted Average): 1일 8시간 작업을 기준으로 하여
유해요인의 측정치에 발생시간을 곱하여 8시간으로 나눈 값을 말한다.
c) 최고노출기준(C)은 근로자가 1일 작업시간 동안 잠시라도 노출
되어서는 아는 기준을 말하며 노출기준 앞에 ‘C’를 붙여 표시한다.
1) 한자은, 월간 반도체, 2000년, 2월호, p.7
표8. 반도체공정별로 본 가스의 특징2)
공 정 |
공정별 가스 |
부산물/배기처리 처리문제 |
분자식 |
가스 특징 |
Etch Metal |
Cl2/BCl3/SiCl4 CHF3/SF6 |
기체 응고에 의한 Exhaust Blockages 수증기에 의한 Powder 발생 Toxic halogenated organic에 의한 부식 및 by products Dry 가스처리 시스템 사용 요망 |
Cl2 SiCl4 BCl3 SF6 |
T,C T,C T,C T,A |
Poly |
HBr/ Cl2/ NF3 SF6 |
유독성 부산물에 의한 강한 부식성 생성 수증기에 의한 부식성 증가 Dry 가스처리 시스템 사용 요망 |
HBr Cl2 NF3 SF6 |
T,C T,C T,O T,A |
Nitride |
HBr/NF3/SF6 |
유독성 부산물에 의한 강한 부식성 생성 수증기에 의한 부식성 증가 Dry 가스처리 시스템 사용 요망 |
HBr NF3 SF6 |
T,C T,O T,A |
Oxide |
CHF3/ NF3 CF4C2F6 |
유독성 부산물 처리 기능 요망 Dry 가스처리 시스템 사용 요망 Global Warming Gases(C2F2) 처리 기능 요망 |
NF3 CHF3 C2F6 |
T,O A GW |
Tungsten
|
Cl2/ SF6 |
유독성과 부식성의 부산물 생성 부착,퇴적에 의한 문제점 Dry 가스처리 시스템 사용 요망 |
Cl2 SF6 |
T,C T.A |
PECVD BPSG |
TOES/TMB/TMP N2O C2F6/NF3 (clean) |
화재 가능성 가스 상반되는 가스를 계속적으로 사용. 예)SiH4/NF3 화재 발생과 유독 가스 처리 요망 |
NF3 C2F6 |
T,O GW |
Oxide/ Nitride |
SiH4/NH3/N2O C2F6/NF3 (clean) |
화재 가능성 가스 상반되는 가스를 계속적으로 사용. 예)SiH4/NF3
|
SiH4 NF3 C2F6 |
P,T Y,O GW |
Tungsten |
WF6/SiH4/ NF3 |
화재 가능성 가스 상반되는 가스를 계속적으로 사용. 예)SiH4/NF3 |
WF6 SiH4 NF3 |
O,C P,T T,O |
LPCVD Nitride |
DCS/ NH3 |
기체 응고에 의한 Exhaust blockage 고체생성물질 및 DCS, Chlorides 처리기능 필요 |
Cl2 SiH2Cl2 |
T,C T,C |
Poly |
SiH4 |
혼합된 가스에 의한 화재 발생 가능 |
SiH4 |
P,T |
Doped |
TOES/TEAs TOES/TEAs+ClF3Clean |
혼합된 가스에 의한 화재 발생 가능 |
PH3 |
P,T |
|
T:유독성, C:부식성, A:질식성, F:가연성, P:자연발화성, O:산화제
GW: Global Warming Gas
2) 한자은, 월간 반도체, 2000년, 2월호, p.8