YIKC 개발 장비 소개
- FAB 공정이 완료된 Wafer내 각 Chip의 전기적 특성검사를 통하여 반도체 소자의 전기적인
동작 상태를 점검하는 전공정 자동 검사 장비(ATE)
- Test Target : DRAM, SRAM, PSRAM, FLASH와 Memory 혼재 ASIC의 Wafer
엑시콘 주요 기술 소개
- 고속 Memory Test 기술[ASIC / SI PCB / FPGA ]
- 범용적인 Test를 위한 Timing 생성 기술[ ASIC ]
- 다수 Device를 동시 Test 할수 있는 양산 전용 장비
● 모집부문
모집부문
인원
담당업무
자격요건
CS & Application
0명
CS & Application
- 학력 및 전공 : 전자공학 졸업 및 졸업 예정자
- 성별 및 나이 : 무관
- 업무능력사항 :
* 회로이론, 전자회로, 디지털공학,
컴퓨터 구조등 기초 공학 이수자
* Analog 및 Digital 회로 /
C계열의Language 사용 가능자 우대
- 우대능력사항(자격증,외국어) : 외국어(일어) 가능자 우대