OLED 수명 측정 장치

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OLED 수명 측정 장치

자료 제공 : 정연시스템 유홍식 사장

OLED 수명 측정 장치는 측정 device에 다양한 조건을 가하며 장시간 동안 OLED에서 발광하는 빛, 전압, 전류 등을 측정하는 장비로 주어진 조건에 따른 수명을 측정하거나 가혹 조건하의 수명을 측정하여 정상 조건에서의 예상 수명을 예측할 수 있도록 도와주는 장비이다. <그림 1.>은 수명 측정 시스템 전체 구성 요소의 Diagram이다

1.측정 원리

측정 원리는 <그림 2>과 같이 OLED에 실험자에 의해 정해진 Source를 주어 구동 시킨 후에 OLED의 전기적 변화량과 빛의 변화량을 측정한다.
OLED를 구동하기 위하여 다양한 방법을 사용한다. 일정한 전류를 공급하는 Constant Current(CC) type, 일정한 전압을 공급하는 Constant Voltage(CV) type, 일정 주기와 Duty비로 CC와 CV를 반복하여 공급하는 Constant Voltage-Constant Current(CVCC) type, 일정 주기와 Duty비를 갖는 Pulse 형태로 전압을 공급하는 PG(Pulse Generator) type, 임의의 여러 단계의 전압을 주기적으로 가해주는 PV(Programmed Voltage) type등이 있다.
OLED의 전기적 변화량을 측정하기 위해서는 V-Meter(Voltage Meter) 또는 I-Meter(Current Meter)가 사용된다.
CC를 사용할 때는 V-Meter, CV를 사용할 때에는 I-Meter를 사용하여 OLED의 내부 저항 값의 변화를 측정하게 된다. CVCC나 PV, VV를 사용할 때는 일반적인 Meter로는 측정에 어려움이 있다. 매우 짧은 시간동안 원하는 전압 상태에서 전압을 읽어야 하기 때문에 가해주는 Source와 동기 시켜 측정하는 기술과 장비가 필요하다. V-Meter나 I-Meter는 OLED에 가해주는 source값의 변화가 적어야 함으로 V-Meter의 경우에는 높은 Impedance를 갖는 장비를 사용하여야 하며, I-Meter는 매우 낮은 저항 값은 갖는 장비를 사용하여야 한다. 측정 장치는 전기적 신호를 장시간 측정하여야 함으로 온도나, 외부 전원 등 외부요인에 대하여 안정도가 높은 장비를 선택한다.
빛의 변화량은 PD를 사용하여 측정한다. PD는 빛의 세기뿐 아니라 빛의 파장에 따라 빛에 반응하는 전류 값이 다르기 때문에 적절한 PD를 선택하여 측정하여야 한다. 측정하려는 OLED의 파장을 고려하여 그 파장에서 가장 빛의 응답성이 좋은 제품을 선택 한다. 또한 측정 OLED의 면적을 고려하여 OLED에서 나오는 전체 빛을 검출하는데 적절한 면적의 PD를 선택 한다. PD의 Current 측정 값은 빛의 세기에 따라 반응하는 값으로 측정 Current값을 빛의 세기로 가정하여 OLED에서 나오는 최초의 Current 값을 기준으로 시간에 따른 Current 값을 monitoring하여 최초 값의 50%가 되는 지점을 찾는다. 이렇게 상대 값을 취하는 이유는 빛의 세기는 거리, 면적, 온도 등 JIG의 형태, 측정환경에 영향 받는 요소를 동일한 환경으로 비교하여 이런 가변요소의 영향을 가장 적게 받도록 하기 위함이다.
PD current 측정은 빛이 없을 때 수십~수백 pA정도 흐르고 빛이 비춰진 상태에서는 수백pA ~ 수십uA까지도 흐르게 된다. 대략 수 uA 정도는 일반 Digital multimeter의 측정범위에 들기 때문에 측정에 무리가 없어 보이지만 장시간 측정 시 약간의 오차를 갖는 data를 얻는다. 측정 정밀도가 1000배 이상 좋은 Pico Ammeter를 사용하여 이러한 오차를 줄이는 것도 측정값의 신뢰를 줄 수 있는 좋은 방법이다. Pico-Ammeter도 전기적 특성을 측정하는 장비와 같이 온도나, 외부 전원 등 외부요인에 대하여 안정도가 높은 장비를 선택한다.

2.다채널 측정 원리

수명측정 data의 정확성을 위하여 동일한 측정 조건을 갖을 수 있도록 한대의 측정기가 계속 측정하는 것이 좀 더 정확한 측정 값을 갖을 수 있다. 그러나 수명측정은 장시간 동안 측정을 하기 때문에 한대의 장비로 여러 개의 측정 sample을 측정하는 것은 거의 불가능하다. 따라서 여러 개의 측정 sample을 동시에 측정 할 수 있도록 측정 회로를 구성하여 측정한다. <그림 3.>는 다채널 측정기의 원리를 보여준다. N개의 OLED에 N개의 source를 연결하고 여기에 V-Meter와 I-Meter를 switching system을 통하여 연결 하여 준다. Source는 투입 시점부터 종료 시점까지 계속 OLED에 bias가 가해지도록 측정 sample과 같은 동수의 source를 측정 sample에 연결한다. V-Meter와 I-Meter는 switching system을 통하여 측정 순간에만 회로를 구성하여 측정 sample의 Voltage drop이나 sample에서 나오는 빛의 양을 측정하는 PD 전류를 I-Meter로 측정한다. 이는 두 가지 장점이 있는데 첫번째는 한 개의 V-Meter와 I-Meter로 측정하기 때문에 측정 값의 일관성을 갖을 수 있다. 두 번째는 일반적으로 Meter기가 고가임으로 여러 대의 측정기 구입비용을 막을 수 있다.
Switching system은 측정하려는 신호를 각각의 meter에 올바로 전달 해야 함으로 가능한 한 낮은 Leakage current를 갖는 것이 좋다. 하지만 Switching system이 낮은 Leakage current를 갖을 수로 장비 가격은 높아지기 때문에 측정 정밀도에 따라 적절한 switching system을 선택하여야 한다. 일반적으로 측정하려는 전류가 1nA를 경계로 switching system의 가격이 매우 많이 차이가 난다. 측정 장비의 선택은 측정하려는 전류 값의 1/100이하의 정밀도를 갖는 장비를 선택한다 보통 1/10 정밀도를 선택하는데 좀 더 안정성을 원한다면 1/100이하를 선택한다. 만약 측정하려는 sample이 대략 1uA level을 갖는다면 100nA이하의 leakage current 갖는 장비를 선택하는 것이 좋다. 10nA level이라면 100pA이하의 제품을 선택하는 것이 좋다. 채널 선택은 여러 개의 측정 sample중에서 하나를 선택하여 V-Meter와 I-Meter를 동시에 연결하여 그 때의 전압과 전류를 읽어 온다. 읽어온 전압과 전류는 채널별로 분류하여 사용자 목적에 맞게 저장 표시하게 된다.

3.Source

OLED를 구동하기 위하여 다양한 Source을 사용한다. CC (Constant Current), CV (Constant Voltage), CVCC (Constant Voltage-Constant Current), PG (Pulse Generator), PV (Programmed Voltage)등 사용자의 목적에 맞게 선택할 수 있다. 이들을 계열 별로 분하여 본다면 다음과 같이 분류할 수 있다.
Current > Constant Current: CC
Voltage > Constant Voltage: CV
> Variable Voltage >> Pulse Generator: PG
>> Programmed Voltage: PV
Voltage-Current > CVCC

1)Current Source
측정 시료에 일정한 전류를 공급하기 위하여 사용하는 장비이다. Current Source는 측정 시료 당 1개식 연결하기 때문에 측정 시료 숫자만큼 준비하여야 한다. 또한 수명 측정 시간이 장시간이기 때문에 측정 종료가 될 때까지 처음에 가한 값을 변경 하지 않기 때문에 따라서 저가형의 Manual Current source를 많이 사용한다. Current source의 용량은 시료에서 소모하는 전류에 따라 1uA이하에서 수십mA까지 다양하다. <그림 4.>는 Current
source의 동작 원리를 보여주는 diagram이다. <그림 4.>에는 Manual 뿐 아니라 remote control의 원리도 보여준다. Constant Current 출력은 일반적으로 OP-AMP를 사용하여 일정한 전류가 부하에 흐르도록 조정해 준다. Manual인 경우 OP-AMP는 POT(가변 저항)를 사용하여 사용자가 정한 값과 부하를 통하여 feed-back된 값과 비교하여 일정한 값이 유지되도록 조절을 해준다. Remote인 경우는 POT 대신에 D/A converter(참고 1.)를 사용하여 D/A의 출력 값을 OP-AMP 입력 단에 가해주고 feed-back된 값과 비교하여 전류를 유지한다. 물론 D/A의 출력 값은 사용자가 외부 interface를 통하여 정할 수 있다. 현재 흐르는 current 값의 측정은 feed-back선을 병렬로 분기하여 이를 A/D converter(참고 2)에서 Digital 값으로 변환하여 읽는다. A/D에서 얻어진 digital 값은 LED display나 LCD등을 이용하여 사용자에게 현재 출력된 current 값을 표시하여 준다. 컴퓨터등에서 입력 받은 Digital 신호로 원하는 값을 설정하는 것과, 측정된 전류 값이나 전압 값을 Digital로 변경할 수 있다는 것은 매우 중요하다. 이는 컴퓨터의 프로그램에 의하여 측정 자동화를 이룰 수 있다는 것을 의미하기 때문이다. Current source에서 장시간 변함 없이 일정한 전류 값을 유지하는 것 또한 매우 중요하다. D/A 출력 값에 시간이나, 온도의 영향을 덜 받도록 기준 값을 발생시키는 소자를 연계 시켜서 D/A 출력을 일정하게 만들어 안정된 current 값이 부하에 적용되도록 한다. 기준 값을 얻을 수 있는 소자에 저가형으로 간단히 기준 전압을 얻을 수 있는 Zener Diode(참고 3.)를 사용하거나, Zener Diode 보다는 고가이지만 특별히 온도나 시간에 따라 안정된 전압을 유지하도록 만든 Reference 소자를 사용한다. 끝으로 사용자의 요구에 맞는 전류 값을 얻기 위하여 소전류일 때는 직접 OP-AMP에서 얻지만 대전류가 필요할 때는 current 출력 소자를 붙여서 대전류를 얻는다.

참고1. D/A converter는 Digital 신호를 Analog 값으로 변화하는 device이다. 컴퓨터처럼 digital 기기들은 모든 신호를 digital로 사용한다. 설정하려는 current값은 컴퓨터나 one chip micro computer에 digital값으로 되어있어 D/A converter를 이용하여 OP-AMP에서 사용할 수 있는 Analog 값으로 변환한다.
참고2. A/D converter는 Analog 값을 digital 신호로 변경하는 device로 전압이나 전류 같은 Analog 신호를 Digital 신호로 변경하여 준다.
참고3. 다이오드란 전류를 한쪽 방향으로만 흘리는 반도체 부품이다. 제너다이오드는 다이오드에 전류가 거의 흐르지 않는 역방향 전압을 가했을때 전류가 거의 흐르지 않다가 어느 이상의 고전압을 가하면 접합면에서 제너 항복이 일어나 갑자기 전류가 흐르게 되는 다이오드를 말함.

2)Voltage Source
Voltage source는 시료에 일정한 전압을 공급하기 위하여 사용하는 장비이다. Voltage source는 Current source와 달리 여러 개의 시료에 병렬로 전압을 공급할 수 있다. 이 때 주의하여야 할 점은 연결된 여러 개의 소자 중 어느 한 개가 단락성으로 불량이 생겼을 경우 모든 전류가 이 소자를 통하여 흐르기 때문에 나머지 소자에는 원하는 전압이 가해지지 않거나, 단락 된 소자는 과 전류로 인하여 타버리거나 심하게 망가질 위험성이 있다. <그림 5.>의 Voltage source도 Current source와 같이 POT를 이용한 Manual type과 D/A converter를 이용한 remote type이 있다. 사용자가 POT를 돌려 원하는 전압을 맞추거나 D/A converter의 출력 전압을 조절하여 원하는 전압을 설정한다. 물론 이 경우도 기준 전압을 통하여 D/A의 출력 전압이 안정되게 출력 되도록 Zener Diode나 Reference IC를 사용한다. 선택된 출력전압은 OP-AMP를 통하여 사용자가 원하는 전압으로 변경된다. 하지만 일반적으로 OP-AMP의 출력전류가 낮기 때문에 높은 전류를 얻기 위해서는 전압 부스터를 사용한다. Current source의 feed-back 신호는 부하를 거쳐 나오는 값을 이용하지만 Voltage source의 feed-back 신호는 부하에 공급하기 전 단에서 얻는다. OP-AMP에서는 사용자가 설정한 전압과, feed-back 신호를 계속 비교하면서 일정한 전압이 부하로 출력되도록 만들어 준다. 현재 출력되는 전압은 feed-back에서 병렬로 분기하여 얻어진 신호를 A/D converter를 이용하여 값을 얻는다. 얻어진 digital 값은 LED display나 LCD로 사용자가 볼 수 있도록 표시하거나 interface를 통하여 다른 기기 또는 컴퓨터에 보내진다. CV는 일정한 전압을 계속 유지시켜 주는 것이지만 PG나 PV는 일정 주기를 갖고 전압을 변경시키는 것이다. PG는 일정한 전압 값이 출력되는 ON 시간과, 출력이 정지되는 OFF 시간이 계속해서 반복되는 것이고, PV는 사용자가 출력할 전압을 2개 이상 프로그램한 전압을 일정 주기로 반복해 주는 것을 말한다. PG는 PV의 특수한 경우의 출력이라고 말할 수 있다. 이렇게 가변이 되는 전압일 경우에는 전류 또는 전압의 측정의 매우 어렵다. 시간에 따라 계속해서 전압이 변경 되기 때문에 측정 값이 원하는 전압의 측정값이 아닐 수 있다. 이런 경우 측정은 반드시 출력 전압의 주기 보다 고속으로 측정할 수 있어야 하며, 출력 전압에 동기화 된 측정이 필요하게 된다.

3)Current/Voltage Source
일정한 전압과 일정한 전류를 번갈아 가며 시료에 공급하는 장치이다<그림6.>. CVCC는 내부에 Current source와 voltage source를 같이 갖고 있다. 정하여진 주기와 Duty에 따라 전류와 전압을 반복하여 출력하는 것이다. 물론 이 CVCC도 장시간 일정한 값을 유지하여야 하기 때문에 Zener Diode나 reference 칩을 사용하여 안정된 값을 얻는다. 일정한 전압과 전류를 반복하기 위하여 solid-state relay를 사용한다. 일반 relay는 on-off시 채터링 노이즈가 발생되어 측정 시료에 나쁜 영향을 줄 수 있다. 또한 일반 relay의 on-off 시간이 solid-state보다 늦기 때문에 정확한 주기나 duty비를 얻을 수 없다. 이러한 이유로 전류와 전압의 절환 switch로 solid-state relay를 사용한다. Solid-state의 개폐는 One chip microchip을 사용하여 일정 주기와 Duty로 조정한다. Feed-back 신호는 current source와 voltage source같이 각각의 OP-AMP에 되돌려 정확한 값이 출력되도록 한다. 이 때의 출력 값은 A/D convert 값을 이용하여 측정하는데 출력 값에 동기화 하여 출력 전압과 전류를 relay로 전환하여 측정 값을 읽는다. 이 곳에 relay를 사용하는 이유는 relay는 solid-state와는 달리 절연저항이 무한대로 출력 값에 영향을 주지 않으며 relay로 인한 채터링 노이즈 또한 동기화 된 시점에 약간의 delay로 해결할 수 있기 때문이다. <그림 7.>은 CVCC의 출력 예를 보여주는 그림이다. 주기 1/t와 Duty 50%는 CV와 CC가 t초 동안 절반씩 출력하게 된다. Duty 25%는 CC가 25%, CV가 75% 출력이 된다. Y축이 전압 축이므로 CV출력 시에는 항상 일정한 값이 흐르는 반면 CC출력은 부하의 저항에 따라 전압이 가변 됨을 볼 수 있다.

4.Photo Diode

PD(Photo Diode)는 시료에 가해진 source값에 따라 시료에서 발광 되는 빛을 측정하는 소자이다. Photo Diode의 선정은 시료에서 나오는 빛의 파장과 세기 그리고 시료의 크기 등을 고려하여 선택하여야 한다. <그림 8.>과 <그림 9.>는 측정에 사용할 수 있는 PD의 사양의 예이다. <그림 8.>은 온도에 따른 변화 정도를 알 수 있는 Temperature coefficient, 사용가능 광 파장인 Spectral application range, 빛의 최대 응답 파장을 알 수 있는 Spectral response-peak, 동작 전압을 알 수 있는 Breakdown voltage 등을 수치 적으로 표시되어 있다. <그림 9.>는 파장에 따른 응답성 그래프와 온도에 따른 dark current의 변화를 보여주고 있다. 두 그림에서 보듯이 PD는 사용환경(온도, 거리, 각도 등)에 따라 얻어지는 값이 틀리고 PD 제품에 따라 얻어지는 값이 틀림을 알 수 있다. 따라서 여러 개 시료에서 측정 값의 신뢰성을 얻기 위하여 최초 값과 시간에 따라 얻어지는 상대 값으로 시료의 수명을 측정하게 된다.

5.측정 JIG

측정 JIG는 외부 빛이 차단된 상태에서 OLED 시료로부터 나오는 빛을 측정할 수 있도록 만든다. JIG의 형태는 올바른 측정 값을 얻을 수 있도록 시료의 위치, source 공급 단자의 위치, 빛의 방향에 따른 PD의 위치 등을 종합적으로 고려하여 만든다. 그 밖에 시료에서 나오는 열 방출 문제와 항습조에서 습도의 유지 문제, PD의 온도 조건 등 매우 까다로운 작업이 필요하다.
<그림 10.> 측정 JIG의 형태를 개략적인 형태이다. 시료의 contact은 fogo pin을 사용하였으며, 정확한 contact 위치는 PCB를 사용하여 위치 조정을 하였다. PD의 위치는 contact 방향과 일치하는 쪽으로 빛이 나오기 때문에 PCB 하단에 거리를 두고 배치한 형태이다.

6.Switching system

다채널 측정 시 측정 시료 수 만큼 전류와 전압을 측정할 수 있는 장비를 구비하기는 비용 면이나 공간면에 많은 제약이 있다. 이런 상황을 해결하기 위하여 다채널 측정 시에는 <그림 3.>과 같이 Switching system을 사용한다. Switching system의 종류는 voltage와 current source보다 더 다양한 종류들이 있다 사용자는 측정 시료에 맞게 선택을 하여야 한다. 하지만 switching system을 크게 Standard switching card를 사용한 Standard switching system과 Low leakage card를 사용한 Low leakage switching system의 둘로 나눌 수 있다<그림 11.>.
Standard switching system은 1nA에 수십mA 까지 폭 넓게 사용할 수 있는 Standard switching card가 장착된 system이다. 이 카드는 낮은 가격대를 갖으며 photo current등 일반적으로 높은 level의 signal 측정 시 사용할 수 있다.
Low leakage switching system은 수십nA이하의 신호측정 시 사용할 수 있는 Low leakage switching card가 장착된 system이다. 이 카드는 매우 고가이다. 이 제품은 Leakage current, Dark current등 매우 낮은 level의 signal을 측정 시 사용한다.
측정 신호의 크기가 nA의 경계로 가격차가 Standard switching system과 Low leakage switching system 사이에 매우 큰 차이가 있다. 낮은 신호인 nA 이하에서는 전자기파로 유도된 전류의 영향과, 신호간의 간섭 등 높은 신호에서는 무시 될 사항이 낮은 전류에서 무시되지 않고 측정값이 영향을 주게 된다. 따라서 Low leakage switching system에서는 이러한 주변의 noise를 효과 적으로 차단할 수 있도록 system이 꾸며져 있어 가격이 매우 고가 이다.

7.항온조 , 항온-항습조

OLED의 측정에 온도 요소는 측정값에 매우 큰 영향을 주는 항목이다. 만약 측정을 온도가 일정하게 유지되는 챔버 내가 아니라 일반 실험실에서 측정 한다면 하루를 주기로 측정값이 변하기 때문에 측정 시 항온조를 사용은 필수적이다. 만약 시료의 내습성 data를 얻고자 한다면 항온-항습조를 사용하여야 한다. 항온-항습조는 항온조에 비해 가격이 매우 고가 이기 때문에 요구 되는 측정환경을 결정하여야 한다. 챔버 size의 결정은 투입하는 시료의 개수, 크기를 결정하여 측정에 필요한 챔버 내부 size를 결정한다. 일반적인 항온조나 항온-항습조는 FAN에 의해서 균일한 온도와 습도를 유지 하기 때문에 공기가 원활히 흐를 수 있도록 내부 size를 결정하여야 한다. 그 밖의 참고하여야 할 사항은 측정 온도 범위와 습도 범위를 고려하고 이 자료를 바탕으로 heater나 cooler의 용량을 결정한다.



8.UPS

측정 도중 전원이 갑자기 꺼지면 장비에 예상하지 못한 문제가 발생할 수 있다. 매우 큰 전원이 동시에 ON 되거나 OFF 된다면 전원이 들어오거나 나가는 시점에 inductance 효과로 인해 상당히 큰 전원 전압이 들어올 수 있어서 이를 보완해 줄 필요가 있다. UPS 자체 내에는 전원이 공급하지 않았을 때 축척하였던 전류로 사용자에게 일정시간 동안 전원 전압을 유지하는 기능과 입력 전압 변동에 관계없이 일정한 출력 전압을 유지하는 기능이 포함되어 있다. UPS의 사용으로 외부의 예상하지 못한 전원의 변동을 막아줄 수 있다. 만약 UPS를 사용하지 않고 정전 시간을 알고있다면 남들 보다 먼저 전원을 OFF하고 남들보다 늦게 전원을 ON하는 것도 기기를 보호하는 좋은 방법이 된다. UPS의 용량 선정은 정전 보상 시간과 사용하는 전력의 크기를 감안하여 용량을 계산한다.

9.Cable

Cable의 선택은 장비 만큼 중요한 요소이다. 일반적으로 장비에는 많은 신경을 쓰면서 cable에는 소홀히 한다. 하지만 측정 신호나, 공급하는 source를 손실 없이, 외부의 영향 을 적게 받으며 전달하는 중요한 역할이기 때문이다. Cable의 가격도 장비 만큼이나 사용하는 신호의 크기나 용도에 따라 많은 차이가 있다.
Source를 공급 하는 선은 사용하는 Source 용량에 맞게 conductor의 지름과 가닥 수 등을 참조 하여 결정한다. 전원 공급선은 외부의 영향을 받는 면 보다는 인접한 외부선에 영향을 덜 주는 방향으로 결정한다. Photo diode의 current, gate 신호선들 매우 낮은 신호 level을 갖는 신호선은 이와는 반대로 외부 노이즈를 덜 받도록 COXIAL등의 shield된 제품을 선택한다.
대부분의 측정은 항온, 항온-항습조에서 이루어 지기 때문에 cable의 절연 물질을 주의하여 선택하여야 한다. 만약 낮은 온도용의 cable을 고온에서 사용하면 절연재의 경화로 인하여 절연성능이 감소될 위험성이 있다. 고온에서 측정할 대는 고온용 cable이나 테프론 cable를 선택하여 사용한다. 그 밖에 cable에서 고려할 요소는 cable의 누설전류와 정전용량이 있다. 누설전류가 작으면 입력한 신호가 출력에 손실 없이 전달된다. 따라서 누설 전류가 작을수록 좋은 cable 될 수 있으나 반드시 정전용량을 같이 고려하여야 한다. 정전 용량이 큰 cable에 매우 낮은 전류의 신호를 연결하면 이 신호가 시료에 전달하기 전에 cable에 charge가 되고, charge가 다 찰 때까지 그 신호가 올바로 시료에 전달 되지 못하기 때문이다.

10.측정 프로그램

측정 프로그램은 준비한 source, I-Meter, V-Meter, Switching system 등을 적절히 control하여 OLED의 전기적 변화량과 OLED에서 나오는 빛의 변화량을 측정하고 사용자가 쉽게 측정 데이터를 판단 분석할 수 있도록 화면 창에 표시하거나 측정 데이터를 disk에 저장한다. <그림 12.>는 측정 프로그램의 한 예로 측정 전에 준비한 장비를 GPIB address 입력 창에서 논리적 이름으로 등록하고 측정한 data를 저장하거나 측정에 사용할 parameter를 저장할 디렉터리를 경로명 등록 창에 입력한다. 기본 hardware에 관한 준비를 마치면 각 채널에 대하여 측정 조건을 채널 설정 창에서 채널 별로 등록한다. 이렇게 등록한 parameter는 경로명에서 설정한 parameter 디렉터리에 저장한다. 각 채널 별 동작은 채널 동작 설정에서 측정 채널을 선택하여 측정을 시작하거나 선택을 해제하여 측정을 종료한다. 측정이 시작 되면 설정된 시간에 맞추어 측정을 하고 측정된 데이터는 데이터 디렉터리에 파일 별로 저장 한다. 데이터의 저장은 실시간 저장하여 불의 사고로 측정 데이터를 잃어버리는 사고를 막는다. 물론 측정 도중 프로그램이 멈추었다 다시 실행할 때도 기존의 측정된 데이터를 복구하여 측정 데이터의 연속성을 갖도록 한다.

11.측정 그래프

측정 프로그램에서 측정 data는 현재 측정된 data만을 표시하게 된다. 만약 이전의 측정된 data의 변화정도를 한눈에 알아 보기 위해서는 측정 data의 그래프 표시가 필요하다. 범용적으로 사용하는 엑셀 등의 스프레드쉬트 프로그램이나 그래프 프로그램에서 저장된 data를 갖고 와 가공하여 표시할 수 있지만 측정 data를 측정 프로그램과 연계하여 간단히 표시할 수 있게 data 표시하는 프로그램을 측정프로그램에 연계 시켰다. 그래프 프로그램은 선택한 채널에 대하여 휘도와 drop 전압를 동시에 표시하도록 하였다.
측정 data update 시간을 설정해 놓으면 일정 시간마다 측정 data를 update하여 시간에 따른 data의 변화량을 쉽게 볼 수 있다.
12.측정 Software
<그림 12>는 측정 프로그램의 한 예이다. 다채널 측정원리에 따라 시료에 source를 주어진 상태에서 순차적으로 switching을 사용하여 한 채널씩 전압, PD전류 등을 측정하여 사용자가 알아보기 편리하게 표시하며, 또 다른 프로그램에서 가공하기 쉽게 disk에서 data를 저장한다. <그림 12>의 프로그램은 장비의 GPIB Address와 data를 저장할 위치의 경로명을 설정하고 측정하려는 채널의 세부 조건을 채널 별로 설정한다. 다음 설정된 parameter를 갖고 채널 동작 설정에서 채널 측정을 시작하거나 종료하게 된다. 채널의 종료는 측정data의 휘도 값의 percent나 전압의 크기를 바탕으로 투입한 시료의 종료를 판단하게 된다.
측정 프로그램은 사용하는 system 장비 모두를 control하여, 측정 시 안정된 data를 얻도록 프로그램 되어야 한다. 특히 장식간 측정 시 불의의 사고로 data를 잃는 것을 최소한으로 하기 위하여 매 측정 시 마다 data를 보관 시키며, 프로그램이 다시 동작되었을 때 기존의 측정 data를 복구 시키는 것도 고려하여야 한다.



문의 : 정연시스템 유홍식 사장
TEL : 02-459-7060
E-mail : jysco@chollian.net